Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics X : 23 August 2023, San Diego, California, United States (Englisch)
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2023
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ISBN:
- Konferenzband / Elektronische Ressource
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Titel:Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics X : 23 August 2023, San Diego, California, United States
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Beteiligte:Assoufid, Lahsen ( Herausgeber:in ) / Ohashi, Haruhiko ( Herausgeber:in ) / Siewert, Frank ( Herausgeber:in ) / Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics, Veranstaltung ( Autor:in ) / SPIE ( Herausgebendes Organ , Sponsor:in )
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Kongress:Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics ; 2023 ; San Diego, Calif.
SPIE Optical Engineering + Applications ; 2023 ; San Diego, Calif.
SPIE Optics + Photonics ; 2023 ; San Diego, Calif. -
Erschienen in:Proceedings of SPIE ; volume 12695Proceedings of SPIE ; volume PC12695
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Verlag:
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Erscheinungsort:Bellingham, Washington, USA
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Erscheinungsdatum:2023
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Format / Umfang:2 Online-Ressourcen
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Anmerkungen:Illustrationen
Campusweiter Zugriff (Universität Hannover). - Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte.
Teilkonferenz von SPIE Optical Engineering + Applications 2023 im Rahmen von SPIE Optics + Photonics 2023
Enthält teilweise Vorträge in Form von Videos (Präsentationsfolien), teilweise ausgearbeitete Vorträge
Literaturangaben -
ISBN:
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Medientyp:Konferenzband
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Format:Elektronische Ressource
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Sprache:Englisch
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Schlagwörter:
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Klassifikation:
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Datenquelle: