Solid-state imaging with charge-coupled devices — Reprint. with corrections (Englisch)
- Neue Suche nach: Theuwissen, Albert J. P.
- Neue Suche nach: Theuwissen, Albert J. P.
1996
-
ISBN:
- Buch / Print
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Titel:Solid-state imaging with charge-coupled devices
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Beteiligte:Theuwissen, Albert J. P. ( Autor:in )
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Erschienen in:
-
Ausgabe:Reprint. with corrections
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Verlag:
- Neue Suche nach: Kluwer Academic Publishers
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Erscheinungsort:Dordrecht [u.a.]
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Erscheinungsdatum:1996
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Format / Umfang:XXVII, 388 S
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Anmerkungen:Ill., graph. Darst
Literaturverz. S. [367] - 380 -
ISBN:
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Medientyp:Buch
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Format:Print
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Sprache:Englisch
- Neue Suche nach: 53.54
- Weitere Informationen zu Basisklassifikation
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Schlagwörter:
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Klassifikation:
BKL: 53.54 Optoelektronik -
Datenquelle:
Inhaltsverzeichnis E-Book
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- 1
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IntroductionTheuwissen, Albert J. P. et al. | 1995
- 7
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Fundamentals of Charge-Coupled DevicesTheuwissen, Albert J. P. et al. | 1995
- 53
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Into, Through and Out of a Charge-Coupled DeviceTheuwissen, Albert J. P. et al. | 1995
- 85
-
A Real CCD Delay LineTheuwissen, Albert J. P. et al. | 1995
- 109
-
Solid-State Imaging at a GlanceTheuwissen, Albert J. P. et al. | 1995
- 131
-
Fundamentals of Solid-State ImagingTheuwissen, Albert J. P. et al. | 1995
- 157
-
Solid-State Imaging for Television ApplicationsTheuwissen, Albert J. P. et al. | 1995
- 193
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Advance Imaging: Light SensitivityTheuwissen, Albert J. P. et al. | 1995
- 219
-
Advanced Imaging: Noise and SmearTheuwissen, Albert J. P. et al. | 1995
- 247
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Advanced Imaging: Device ArchitecturesTheuwissen, Albert J. P. et al. | 1995
- 279
-
Nonconsumer ImagingTheuwissen, Albert J. P. et al. | 1995