Elektrische Charakterisierung und Defektanalytik von Silizium mit MDP und MD-PICTS (Deutsch)
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2006
- Hochschulschrift / Elektronische Ressource
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Titel:Elektrische Charakterisierung und Defektanalytik von Silizium mit MDP und MD-PICTS
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Beteiligte:Dornich, Kay ( Autor:in )
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Hochschulschrift:Freiberg (Sachsen), Techn. Univ. Bergakad., Diss, 2006
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Erschienen in:
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Verlag:
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Erscheinungsort:Freiberg
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Erscheinungsdatum:2006
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Format / Umfang:Online-Ressource (PDF-Datei: 106 S., 1506 KB)
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Medientyp:Hochschulschrift
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Format:Elektronische Ressource
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Sprache:Deutsch
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Schlagwörter:
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Klassifikation:
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Datenquelle: