IEEE International Test Conference, 2007 : ITC 2007 ; 21 - 26 Oct. 2007, Santa Clara Convention Center, Santa Clara, California, USA ; at ITC Test Week ; [Test Week: October 21 - 26, conference & exhibition: October 23 - 25] ; proceedings (Englisch)
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2007
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ISBN:
- Konferenzband / Elektronische Ressource
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Titel:IEEE International Test Conference, 2007 : ITC 2007 ; 21 - 26 Oct. 2007, Santa Clara Convention Center, Santa Clara, California, USA ; at ITC Test Week ; [Test Week: October 21 - 26, conference & exhibition: October 23 - 25] ; proceedings
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Weitere Titelangaben:Facing nanometer-technology challenges
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Beteiligte:
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Kongress:IEEE International Test Conference ; 38 ; 2007 ; Santa Clara, Calif.
ITC ; 38 ; 2007 ; Santa Clara, Calif.
ITC Test Week ; 2007 ; Santa Clara, Calif. -
Verlag:
- Neue Suche nach: IEEE
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Erscheinungsort:Piscataway, NJ
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Erscheinungsdatum:2007
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Format / Umfang:Online-Ressource
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Anmerkungen:Kongr.-Thema: Facing nanometer-technology challenges
IEEE catalog number: 07CH37892
Parallel als Buch-Ausg. erschienen -
ISBN:
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Medientyp:Konferenzband
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Format:Elektronische Ressource
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Sprache:Englisch
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Reportnr. / Förderkennzeichen:07CH37892
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Klassifikation:
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Datenquelle:
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Elektrischer Antrieb für SchiffshilfsmaschinenBleicken, B. et al. | 1942
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Die Speisung von Drehstrom-BordnetzenLesch, G. et al. | 1942
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Die Auslegung von DrehstromnetzenReimann, E. et al. | 1942