Assessing the potential of ion beam analytical techniques for depth profiling Li in thin film Li ion batteries (Englisch)
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- Aufsatz (Zeitschrift) / Elektronische Ressource
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Titel:Assessing the potential of ion beam analytical techniques for depth profiling Li in thin film Li ion batteries
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Beteiligte:Mathayan, Vairavel ( Autor:in ) / Morita, Kenji ( Autor:in ) / Tsuchiya, Bun ( Autor:in ) / Ye, Rongbin ( Autor:in ) / Baba, Mamoru ( Autor:in ) / Moro, Marcos V. ( Autor:in ) / Primetzhofer, Daniel ( Autor:in )
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Erscheinungsdatum:01.01.2021
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Anmerkungen:ISI:000724626900009
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DOI:
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Medientyp:Aufsatz (Zeitschrift)
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Format:Elektronische Ressource
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Sprache:Englisch
- Neue Suche nach: 540
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Schlagwörter:
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Klassifikation:
DDC: 540 -
Datenquelle: