Self-interference fluorescence microscopy with three-phase detection for depth-resolved confocal epi-fluorescence imaging (Englisch)
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Titel:Self-interference fluorescence microscopy with three-phase detection for depth-resolved confocal epi-fluorescence imaging
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Beteiligte:Braaf, Boy ( Autor:in ) / De Boer, Johannes F. ( Autor:in )
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Erscheinungsdatum:20.03.2017
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Anmerkungen:Braaf , B & De Boer , J F 2017 , ' Self-interference fluorescence microscopy with three-phase detection for depth-resolved confocal epi-fluorescence imaging ' , Optics Express , vol. 25 , no. 6 , pp. 6475-6496 . https://doi.org/10.1364/OE.25.006475
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DOI:
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Medientyp:Aufsatz (Zeitschrift)
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Format:Elektronische Ressource
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Sprache:Englisch
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Klassifikation:
DDC: 530 -
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