Strength of polycrystalline niobium from high-pressure x-ray diffraction data: A comparison of results from line-width and line-shift analyses (Englisch)
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Titel:Strength of polycrystalline niobium from high-pressure x-ray diffraction data: A comparison of results from line-width and line-shift analyses
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Beteiligte:Singh, Anil K. ( Autor:in ) / Liermann, Hanns-Peter ( Autor:in )
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Erscheinungsdatum:01.01.2015
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Anmerkungen:Journal of applied physics 118(6), 065903 - (2015). doi:10.1063/1.4927727
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Medientyp:Aufsatz (Zeitschrift)
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Format:Elektronische Ressource
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Sprache:Englisch
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