Analysis of Rb and Cs Implantations in Silicon by Channelling and Hall Effect Measurements (Englisch)
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1999
- Buch / Elektronische Ressource
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Titel:Analysis of Rb and Cs Implantations in Silicon by Channelling and Hall Effect Measurements
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Beteiligte:Meyer, O. ( Autor:in ) / Mayer, J. W. ( Autor:in )
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Erscheinungsdatum:25.01.1999
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DOI:
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Medientyp:Buch
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Format:Elektronische Ressource
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Sprache:Englisch
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Schlagwörter:
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Klassifikation:
DDC: 530 -
Lizenzbestimmungen:
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Datenquelle: