Determining the material structure of microcrystalline silicon from Raman spectra (Englisch)
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- Aufsatz (Zeitschrift) / Elektronische Ressource
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Titel:Determining the material structure of microcrystalline silicon from Raman spectra
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Beteiligte:Smit, C. ( Autor:in ) / Swaaij, van, R.A.C.M.M. ( Autor:in ) / Donker, H. ( Autor:in ) / Petit, A.M.H.N. ( Autor:in ) / Kessels, W.M.M. ( Autor:in ) / Sanden, van de, M.C.M. ( Autor:in )
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Erscheinungsdatum:01.01.2003
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Anmerkungen:Smit , C , Swaaij, van , R A C M M , Donker , H , Petit , A M H N , Kessels , W M M & Sanden, van de , M C M 2003 , ' Determining the material structure of microcrystalline silicon from Raman spectra ' , Journal of Applied Physics , vol. 94 , no. 5 , pp. 3582-3588 . https://doi.org/10.1063/1.1596364
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DOI:
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Medientyp:Aufsatz (Zeitschrift)
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Format:Elektronische Ressource
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Sprache:Englisch
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Klassifikation:
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Datenquelle: