Measurement and Characterization of 28 nm FDSOI CMOS Test Circuits for an LTE Wireless Transceiver Front-End (Englisch)
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2016
- Hochschulschrift / Elektronische Ressource
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Titel:Measurement and Characterization of 28 nm FDSOI CMOS Test Circuits for an LTE Wireless Transceiver Front-End
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Beteiligte:Hossain, Mohammad Billal ( Autor:in )
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Erscheinungsdatum:01.01.2016
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Medientyp:Hochschulschrift
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Format:Elektronische Ressource
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Sprache:Englisch
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