Three-dimensional X-ray imaging and analysis of fungi on and in wood (Englisch)
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- Aufsatz (Zeitschrift) / Elektronische Ressource
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Titel:Three-dimensional X-ray imaging and analysis of fungi on and in wood
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Beteiligte:Van den Bulcke, Jan ( Autor:in ) / Boone, Matthieu ( Autor:in ) / Van Acker, Joris ( Autor:in ) / Van Hoorebeke, Luc ( Autor:in )
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Erscheinungsdatum:01.01.2009
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Anmerkungen:MICROSCOPY AND MICROANALYSIS ; ISSN: 1431-9276
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DOI:
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Medientyp:Aufsatz (Zeitschrift)
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Format:Elektronische Ressource
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Sprache:Englisch
- Neue Suche nach: 690
- Weitere Informationen zu Dewey Decimal Classification
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Schlagwörter:Technology and Engineering , MICROTOMOGRAPHY , QUANTIFICATION , RESISTANCE , TOMOGRAPHY , CONFOCAL MICROSCOPY , ROT DECAY , imaging , computed tomography (CT) , SEM , 3D , X-ray , MELANIN , fungus , wood
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Klassifikation:
DDC: 690 -
Datenquelle: