A Passive On-Line Defect Detection Method for Wire and Arc Additive Manufacturing Based on Infrared Thermography (Englisch)
Freier Zugriff
- Neue Suche nach: Chen, Xi
- Neue Suche nach: Zhang, Haiou
- Neue Suche nach: Hu, Jiannan
- Neue Suche nach: Xiao, Yu
- Neue Suche nach: Chen, Xi
- Neue Suche nach: Zhang, Haiou
- Neue Suche nach: Hu, Jiannan
- Neue Suche nach: Xiao, Yu
- Aufsatz (Konferenz) / Elektronische Ressource
-
Titel:A Passive On-Line Defect Detection Method for Wire and Arc Additive Manufacturing Based on Infrared Thermography
-
Beteiligte:Chen, Xi ( Autor:in ) / Zhang, Haiou ( Autor:in ) / Hu, Jiannan ( Autor:in ) / Xiao, Yu ( Autor:in )
-
Erscheinungsdatum:01.01.2019
-
DOI:
-
Medientyp:Aufsatz (Konferenz)
-
Format:Elektronische Ressource
-
Sprache:Englisch
- Neue Suche nach: 670
- Weitere Informationen zu Dewey Decimal Classification
-
Schlagwörter:
-
Klassifikation:
DDC: 670 -
Datenquelle: