Assessing the stability of p+ and n+ polysilicon passivating contacts with various capping layers on p-type wafers (Englisch)
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- Aufsatz (Zeitschrift) / Elektronische Ressource
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Titel:Assessing the stability of p+ and n+ polysilicon passivating contacts with various capping layers on p-type wafers
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Beteiligte:Madumelu, Chukwuka ( Autor:in ) / Cai, Yalun ( Autor:in ) / Hollemann, Christina ( Autor:in ) / Peibst, Robby ( Autor:in ) / Hoex, Bram ( Autor:in ) / Hallam, Brett J. ( Autor:in ) / Soeriyadi, Anastasia H. ( Autor:in )
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Erscheinungsdatum:01.01.2023
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Anmerkungen:Solar Energy Materials and Solar Cells 253 (2023) ; Solar Energy Materials and Solar Cells
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DOI:
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Medientyp:Aufsatz (Zeitschrift)
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Format:Elektronische Ressource
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Sprache:Englisch
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Schlagwörter:
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Klassifikation:
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