Ein Schädigungsparameter mit kritischem Ebenen Verfahren für nichtproportionale Beanspruchungen im Rahmen der FKM-Richtlinie (Deutsch)
- Neue Suche nach: Fällgren, C.
- Neue Suche nach: Vormwald, M.
- Neue Suche nach: Beier, H.T.
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- Aufsatz (Konferenz) / Elektronische Ressource
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Titel:Ein Schädigungsparameter mit kritischem Ebenen Verfahren für nichtproportionale Beanspruchungen im Rahmen der FKM-Richtlinie
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Beteiligte:
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Verlag:
- Neue Suche nach: Deutscher Verband für Materialforschung und –prüfung e.V.
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Erscheinungsdatum:2024
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DOI:
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Medientyp:Aufsatz (Konferenz)
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Format:Elektronische Ressource
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Sprache:Deutsch
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Datenquelle: