Effect of the Source-to-Substrate Distance on Structural, Optoelectronic, and Thermoelectric Properties of Zinc Sulfide Thin Films (Unbekannt)
Freier Zugriff
- Neue Suche nach: Asad Ur Rehman Khan
- Neue Suche nach: Muhammad Ramzan
- Neue Suche nach: Muhammad Faisal Iqbal
- Neue Suche nach: Muhammad Hafeez
- Neue Suche nach: Mohammed M. Fadhali
- Neue Suche nach: Hamoud H. Somaily
- Neue Suche nach: Muhammad Javid
- Neue Suche nach: Muhammad Waqas Mukhtar
- Neue Suche nach: Muhammad Farooq Saleem
- Neue Suche nach: Asad Ur Rehman Khan
- Neue Suche nach: Muhammad Ramzan
- Neue Suche nach: Muhammad Faisal Iqbal
- Neue Suche nach: Muhammad Hafeez
- Neue Suche nach: Mohammed M. Fadhali
- Neue Suche nach: Hamoud H. Somaily
- Neue Suche nach: Muhammad Javid
- Neue Suche nach: Muhammad Waqas Mukhtar
- Neue Suche nach: Muhammad Farooq Saleem
In:
Materials, Vol 15, Iss 22, p 8047 (2022)
;
2022
-
ISSN:
- Aufsatz (Zeitschrift) / Elektronische Ressource
-
Titel:Effect of the Source-to-Substrate Distance on Structural, Optoelectronic, and Thermoelectric Properties of Zinc Sulfide Thin Films
-
Beteiligte:Asad Ur Rehman Khan ( Autor:in ) / Muhammad Ramzan ( Autor:in ) / Muhammad Faisal Iqbal ( Autor:in ) / Muhammad Hafeez ( Autor:in ) / Mohammed M. Fadhali ( Autor:in ) / Hamoud H. Somaily ( Autor:in ) / Muhammad Javid ( Autor:in ) / Muhammad Waqas Mukhtar ( Autor:in ) / Muhammad Farooq Saleem ( Autor:in )
-
Erschienen in:
-
Verlag:
- Neue Suche nach: MDPI AG
-
Erscheinungsdatum:2022
-
ISSN:
-
DOI:
-
Medientyp:Aufsatz (Zeitschrift)
-
Format:Elektronische Ressource
-
Sprache:Unbekannt
-
Schlagwörter:ZnS thin films , physical-vapor-thermal-coating technique , source-to-substrate distance , solar cells , Technology , T , Electrical engineering. Electronics. Nuclear engineering , TK1-9971 , Engineering (General). Civil engineering (General) , TA1-2040 , Microscopy , QH201-278.5 , Descriptive and experimental mechanics , QC120-168.85
-
Datenquelle:
Metadata by DOAJ is licensed under CC BY-SA 1.0