Comparative coherence between layered and traditional semiconductors: unique opportunities for heterogeneous integration (Unbekannt)
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ISSN:
- Aufsatz (Zeitschrift) / Elektronische Ressource
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Titel:Comparative coherence between layered and traditional semiconductors: unique opportunities for heterogeneous integration
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Beteiligte:Zhuofan Chen ( Autor:in ) / Xiaonan Deng ( Autor:in ) / Simian Zhang ( Autor:in ) / Yuqi Wang ( Autor:in ) / Yifei Wu ( Autor:in ) / Shengxian Ke ( Autor:in ) / Junshang Zhang ( Autor:in ) / Fucheng Liu ( Autor:in ) / Jianing Liu ( Autor:in ) / Yingjie Liu ( Autor:in )
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Erschienen in:
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Verlag:
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Erscheinungsdatum:2023
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ISSN:
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DOI:
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Medientyp:Aufsatz (Zeitschrift)
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Format:Elektronische Ressource
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Sprache:Unbekannt
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Schlagwörter:heterogeneous integration , van der Waals heterostructure , post Moore era , layered semiconductor , transition metal dichalcogenide , layered-traditional semiconductor heterostructure , Materials of engineering and construction. Mechanics of materials , TA401-492 , Industrial engineering. Management engineering , T55.4-60.8 , Physics , QC1-999
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Datenquelle:
Metadata by DOAJ is licensed under CC BY-SA 1.0