Probabilistic modeling and sizing of embedded flaws in nondestructive inspections for fatigue damage prognostics and structural integrity assessment (Englisch)
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2015
- Patent / Elektronische Ressource
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Titel:Probabilistic modeling and sizing of embedded flaws in nondestructive inspections for fatigue damage prognostics and structural integrity assessment
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Patentnummer:CN105051527
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Patentanmelder:
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Patentfamilie:
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Beteiligte:GUAN XUEFEI ( Autor:in ) / ZHANG JINGDAN ( Autor:in ) / ZHOU SHAOHUA ( Autor:in ) / KADAU KAI ( Autor:in ) / Y GUO ( Autor:in ) / RASSELKORDE EL MAHJOUB ( Autor:in ) / ABBASI WAHEED A ( Autor:in ) / LEE CHIN-SHENG ( Autor:in ) / LEWIS ASHLEY L ( Autor:in ) / RADKE STEVE H ( Autor:in )
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Verlag:
- Neue Suche nach: Europäisches Patentamt
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Erscheinungsdatum:11.11.2015
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Medientyp:Patent
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Format:Elektronische Ressource
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Sprache:Englisch
- Neue Suche nach: G01N / G06F
- Weitere Informationen zu Internationale Patentklassifikation
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Klassifikation:
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Datenquelle: