System and method for measuring captured cold atoms based on differential interferometer (Chinesisch)
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2020
- Patent / Elektronische Ressource
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Titel:System and method for measuring captured cold atoms based on differential interferometer
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Weitere Titelangaben:一种基于差分干涉仪测量被捕获冷原子的系统及方法
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Patentnummer:CN111045070
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Patentanmelder:
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Patentfamilie:
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Beteiligte:ZHANG XIAN ( Autor:in ) / MA XIAOXIAO ( Autor:in ) / HUANG KAIKAI ( Autor:in ) / LU XUANHUI ( Autor:in )
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Verlag:
- Neue Suche nach: Europäisches Patentamt
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Erscheinungsdatum:21.04.2020
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Medientyp:Patent
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Format:Elektronische Ressource
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Sprache:Chinesisch
- Neue Suche nach: G01T
- Weitere Informationen zu Internationale Patentklassifikation
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Klassifikation:
IPC: G01T MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION, Messung von Kern- oder Röntgenstrahlung -
Datenquelle: