Verfahren und Vorrichtung zur ortsaufgelösten Lokalisierung von Defekten in Materialien (Deutsch)
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- Neue Suche nach: ARUMUGAM SRI RANJINI
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2023
- Patent / Elektronische Ressource
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Titel:Verfahren und Vorrichtung zur ortsaufgelösten Lokalisierung von Defekten in Materialien
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Patentnummer:DE102021117409
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Patentanmelder:
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Patentfamilie:
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Beteiligte:ARUMUGAM SRI RANJINI ( Autor:in )
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Verlag:
- Neue Suche nach: Europäisches Patentamt
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Erscheinungsdatum:12.01.2023
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Medientyp:Patent
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Format:Elektronische Ressource
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Sprache:Deutsch
- Neue Suche nach: G01N / B82Y / G06N
- Weitere Informationen zu Internationale Patentklassifikation
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Klassifikation:
IPC: G01N Untersuchen oder Analysieren von Stoffen durch Bestimmen ihrer chemischen oder physikalischen Eigenschaften, INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES / B82Y Bestimmter Gebrauch oder bestimmte Anwendung von Nanostrukturen, SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES / G06N COMPUTER SYSTEMS BASED ON SPECIFIC COMPUTATIONAL MODELS, Rechnersysteme, basierend auf spezifischen Rechenmodellen -
Datenquelle: