SYSTEM AND METHOD FOR MONITORING A MICROSTRUCTURE OF A METAL TARGET (Englisch)
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2019
- Patent / Elektronische Ressource
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Titel:SYSTEM AND METHOD FOR MONITORING A MICROSTRUCTURE OF A METAL TARGET
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Weitere Titelangaben:SYSTEM UND VERFAHREN ZUR ÜBERWACHUNG EINER MIKROSTRUKTUR EINER METALLPROBE
SYSTÈME ET PROCÉDÉ POUR SURVEILLER UNE MICROSTRUCTURE D'UN ÉCHANTILLON MÉTALLIQUE -
Patentnummer:EP3203224
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Patentanmelder:
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Patentfamilie:
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Beteiligte:
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Verlag:
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Erscheinungsdatum:27.11.2019
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Medientyp:Patent
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Format:Elektronische Ressource
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Sprache:Englisch
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Klassifikation:
IPC: G01N Untersuchen oder Analysieren von Stoffen durch Bestimmen ihrer chemischen oder physikalischen Eigenschaften, INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES / B21B Walzen von Metall, ROLLING OF METAL / C21D Veränderung der physikalischen Struktur von Eisenmetallen, MODIFYING THE PHYSICAL STRUCTURE OF FERROUS METALS / G01R Messen elektrischer Größen, MEASURING ELECTRIC VARIABLES -
Datenquelle: