3次元計測装置、3次元計測方法、プログラム、システム、及び物品の製造方法 (Japanisch)
Freier Zugriff
2024
- Patent / Elektronische Ressource
-
Titel:3次元計測装置、3次元計測方法、プログラム、システム、及び物品の製造方法
-
Patentnummer:JP2024055569
-
Patentfamilie:
-
Verlag:
- Neue Suche nach: Europäisches Patentamt
-
Erscheinungsdatum:18.04.2024
-
Medientyp:Patent
-
Format:Elektronische Ressource
-
Sprache:Japanisch
- Neue Suche nach: G01C
- Weitere Informationen zu Internationale Patentklassifikation
-
Klassifikation:
IPC: G01C Messen von Entfernungen, Höhen, Neigungen oder Richtungen, MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS -
Datenquelle: