SCANNING ELECTRON MICROSCOPE (Englisch)
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2019
- Patent / Elektronische Ressource
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Titel:SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
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Patentnummer:US2019103245
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Patentanmelder:
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Patentfamilie:
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Beteiligte:VAN DER MAST KAREL DIEDERICK ( Autor:in ) / HAMMEN ADRIANUS FRANCISCUS JOHANNES ( Autor:in ) / THEUWS WILHELMUS HENRICA CORNELIS; ( Autor:in ) / STOKS SANDER RICHARD MARIE ( Autor:in )
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Verlag:
- Neue Suche nach: Europäisches Patentamt
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Erscheinungsdatum:04.04.2019
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Medientyp:Patent
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Format:Elektronische Ressource
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Sprache:Englisch
- Neue Suche nach: H01J
- Weitere Informationen zu Internationale Patentklassifikation
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Klassifikation:
IPC: H01J Elektrische Entladungsröhren oder Entladungslampen, ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS -
Datenquelle: