Defects and carrier lifetime in 4H-Silicon Carbide: Presentation held at E-MRS Fall meeting 2018, Warsaw (Unbekannt)
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2018
- Sonstige / Elektronische Ressource
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Titel:Defects and carrier lifetime in 4H-Silicon Carbide: Presentation held at E-MRS Fall meeting 2018, Warsaw
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Beteiligte:Kallinger, Birgit ( Autor:in ) / Erlekampf, Jürgen ( Autor:in ) / Rommel, Mathias ( Autor:in ) / Berwian, Patrick ( Autor:in ) / Friedrich, J. ( Autor:in ) / Matthus, Christian D. ( Autor:in )
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Verlag:
- Neue Suche nach: Fraunhofer Publica
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Erscheinungsdatum:2018
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Medientyp:Sonstige
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Format:Elektronische Ressource
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Sprache:Unbekannt
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Schlagwörter:
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Datenquelle: