Nanoimprinted metallic probe demonstrators for electrical scanning probe microscopy: Manufacturing, characterization, and application: Poster at 14th European FIB Users Group Meeting (EFUG 2010), Gaeta, Italy (Englisch)
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2010
- Sonstige / Elektronische Ressource
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Titel:Nanoimprinted metallic probe demonstrators for electrical scanning probe microscopy: Manufacturing, characterization, and application: Poster at 14th European FIB Users Group Meeting (EFUG 2010), Gaeta, Italy
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Beteiligte:Jambreck, J.D. ( Autor:in ) / Yanev, V. ( Autor:in ) / Schmitt, H. ( Autor:in ) / Rommel, M. ( Autor:in ) / Bauer, A.J. ( Autor:in ) / Frey, L. ( Autor:in )
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Verlag:
- Neue Suche nach: Fraunhofer Publica
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Erscheinungsdatum:2010
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Medientyp:Sonstige
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Format:Elektronische Ressource
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Sprache:Englisch
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Schlagwörter:
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Datenquelle: