Measurement of Intrinsic Dirac Fermion Cooling on the Surface of the Topological Insulator Bi2Se3 Using Time-Resolved and Angle-Resolved Photoemission Spectroscopy (Englisch)
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- Aufsatz (Zeitschrift) / Elektronische Ressource
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Titel:Measurement of Intrinsic Dirac Fermion Cooling on the Surface of the Topological Insulator Bi2Se3 Using Time-Resolved and Angle-Resolved Photoemission Spectroscopy
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Beteiligte:Wang, Y. H. ( Autor:in ) / Hsieh, David ( Autor:in ) / Sie, Edbert Jarvis ( Autor:in ) / Steinberg, Hadar ( Autor:in ) / Gardner, Dillon Richard ( Autor:in ) / Lee, Young S. ( Autor:in ) / Jarillo-Herrero, Pablo ( Autor:in ) / Gedik, Nuh ( Autor:in )
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Verlag:
- Neue Suche nach: American Physical Society
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Erscheinungsdatum:2012
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Anmerkungen:Wang, Y. et al. “Measurement of Intrinsic Dirac Fermion Cooling on the Surface of the Topological Insulator Bi_{2}Se_{3} Using Time-Resolved and Angle-Resolved Photoemission Spectroscopy.” Physical Review Letters 109.12 (2012). © 2012 American Physical Society
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ISSN:
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DOI:
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Medientyp:Aufsatz (Zeitschrift)
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Format:Elektronische Ressource
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Sprache:Englisch
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Datenquelle: