Comparison of resonant inelastic x-ray scattering spectra and dielectric loss functions in copper oxides (Englisch)
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- Aufsatz (Zeitschrift) / Elektronische Ressource
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Titel:Comparison of resonant inelastic x-ray scattering spectra and dielectric loss functions in copper oxides
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Beteiligte:Kim, Jungho ( Autor:in ) / Ellis, D. S. ( Autor:in ) / Zhang, H. ( Autor:in ) / Kim, Young-June ( Autor:in ) / Hill, J. P. ( Autor:in ) / Gog, T. ( Autor:in ) / Casa, D. ( Autor:in )
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Verlag:
- Neue Suche nach: American Physical Society
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Erscheinungsdatum:2009
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Anmerkungen:Kim, Jungho et al. “Comparison of Resonant Inelastic X-ray Scattering Spectra and Dielectric Loss Functions in Copper Oxides.” Physical Review B 79.9 (2009) : n. pag. © 2009 The American Physical Society
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ISSN:
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DOI:
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Medientyp:Aufsatz (Zeitschrift)
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Format:Elektronische Ressource
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Sprache:Englisch
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Datenquelle: