Design Science for Radiation-effects Rate Prediction and Development of Error-immune Circuitry (Englisch)
- Neue Suche nach: R. I. Bahar
- Neue Suche nach: A. Zaslavsky
- Neue Suche nach: J. Mundy
- Neue Suche nach: W. R. Patterson
- Neue Suche nach: R. D. Schrimpf
- Neue Suche nach: R. A. Reed
- Neue Suche nach: R. A. Weller
- Neue Suche nach: M. L. Alles
- Neue Suche nach: B. Bhuva
- Neue Suche nach: R. I. Bahar
- Neue Suche nach: A. Zaslavsky
- Neue Suche nach: J. Mundy
- Neue Suche nach: W. R. Patterson
- Neue Suche nach: R. D. Schrimpf
- Neue Suche nach: R. A. Reed
- Neue Suche nach: R. A. Weller
- Neue Suche nach: M. L. Alles
- Neue Suche nach: B. Bhuva
2018
- Report / Keine Angabe
-
Titel:Design Science for Radiation-effects Rate Prediction and Development of Error-immune Circuitry
-
Beteiligte:R. I. Bahar ( Autor:in ) / A. Zaslavsky ( Autor:in ) / J. Mundy ( Autor:in ) / W. R. Patterson ( Autor:in ) / R. D. Schrimpf ( Autor:in ) / R. A. Reed ( Autor:in ) / R. A. Weller ( Autor:in ) / M. L. Alles ( Autor:in ) / B. Bhuva ( Autor:in )
-
Verlag:
- Neue Suche nach: Brown Univ., Providence, RI.
-
Erscheinungsdatum:2018
-
Format / Umfang:16 pages
-
Medientyp:Report
-
Format:Keine Angabe
-
Sprache:Englisch
-
Reportnr. / Förderkennzeichen:AD1063219/XAB
-
Schlagwörter:Electrotechnology , Complementary metal-oxide semiconductors , Electron transfer , Electrons , Dynamic response , Markov chains , Nand gates , Shot noise , Monte carlo method , Alpha particles , Radiation effects , Logic gates , Integrated circuits , Error-rate modeling , Noise analysis , Noise-immune circuit design , Logic synthesis , Ultimate cmos , Single-event upset
-
Datenquelle: