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Waehrend dieser Konferenz wurden 22 Fachvortraege ueber Systeme und Verfahren zur Produktpruefung gehalten. Einige Thementitel lauteten: Grundkonzept von Mini- und Mikrocomputern; technischer Durchbruch bei der photooptischen Abtastung; Messfuehler zur Ermittlung magnetischer Eigenschaften; optische Sensoren in Messsystemen; von der Steinzeit zum Raumfahrtzeitalter; verbesserte Ultraschallpruefungen mit neuartigen Signalumsetzern; Kleinrechner fuer die Datenerfassung und Datenreduktion; zerstoerungsfreie Werkstoffpruefung durch die rechnergestuetzte Ultraschall-Tomographie; die zukuenftige Aufgabe der Mikroprozessoren in der Laengenmesstechnik; Infrarotsensoren fuer beruehrungslose Temperaturmessungen; Computereinsatz in Messautomaten; Vergleich zwischen Funktions- und Parameterpruefsystemen.