Neue Konzepte für ein faserbasiertes Messsystem zur absoluten Abstandsmessung (Deutsch)
- Neue Suche nach: Bosbach, C.
- Neue Suche nach: Pfeifer, T.
- Neue Suche nach: Depiereux, F.
- Neue Suche nach: Bosbach, C.
- Neue Suche nach: Pfeifer, T.
- Neue Suche nach: Depiereux, F.
In:
Technisches Messen
;
70
, 2
;
85-92
;
2003
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ISSN:
- Aufsatz (Zeitschrift) / Print
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Titel:Neue Konzepte für ein faserbasiertes Messsystem zur absoluten Abstandsmessung
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Weitere Titelangaben:New concepts for a fiber based system for absolute distance measurements
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Beteiligte:
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Erschienen in:Technisches Messen ; 70, 2 ; 85-92
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Verlag:
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Erscheinungsdatum:2003
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Format / Umfang:8 Seiten, 14 Bilder, 9 Quellen
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ISSN:
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Coden:
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DOI:
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Medientyp:Aufsatz (Zeitschrift)
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Format:Print
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Sprache:Deutsch
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Schlagwörter:
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Datenquelle:
Inhaltsverzeichnis – Band 70, Ausgabe 2
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Editorial - Photonische MessverfahrenPfeifer, T. et al. | 2003
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Absolut messendes DiodenlaserinterferometerBurgarth, V. / Zhang, C. / Abou-Zeid, A. et al. | 2003
- 53
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Diode Laser Interferometer for Absolute Distance MeasurementBurgarth, V. et al. | 2003
- 59
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Spatial-resolved Laser Doppler Velocity Profile Measurement of Boundary Layer FlowsCzarske, J. et al. | 2003
- 59
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Ortsaufgelöste Laser-Doppler-Geschwindigkeitsprofilmessung von GrenzschichtströmungenCzarske, J. / Büttner, L. / Razik, T. et al. | 2003
- 66
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Optische Verarbeitung von interferometrischen Streifenbildern und die Fehlererkennung durch Wavelet-FilterungKallmeyer, F. / Wernicke, G. / Krüger, S. / Gruber, H. / Osten, W. / Kayser, D. et al. | 2003
- 66
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Optical Processing of Interferometric Fringes and Detection of Faults by Wavelet FilteringKallmeyer, F. et al. | 2003
- 71
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Laser Speckle Strain Measurement and its Application in Material ScienceThurner, T. et al. | 2003
- 71
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Laser-Speckle-Dehnungsmessung und deren Anwendung in der MaterialwissenschaftThurner, Thoma / Schneider, Sebastian C / Zagar, Bernhard G. et al. | 2003
- 79
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Simultaneous Measurement of Shape and Color of Complex ObjectsNotni, G.H. et al. | 2003
- 79
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Simultane Erfassung von 3D-Form und Farbe komplexer ObjekteNotni, Georg et al. | 2003
- 85
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Neue Konzepte für ein faserbasiertes Messsystem zur absoluten AbstandsmessungBosbach, C. / Pfeifer, T. / Depiereux, F. et al. | 2003
- 85
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New Concepts for a Fiber Based System for Absolute Distance MeasurementsBosbach, C. et al. | 2003
- 93
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Contouring of Moving Technical Surfaces via Speckle-InterferometryMeixner, A. et al. | 2003
- 93
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Formvermessung an bewegten technischen Oberflächen mittels der Speckle-InterferometrieMeixner, Andrea et al. | 2003
- 99
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Erzeugung und Auswertung von objektangepassten inversen ProjektionsmusternBothe, T. / Li, W. / von Kopylow, C. / Jüptner, W. et al. | 2003
- 99
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Generation and Evaluation of Object Adapted Inverse Patterns for ProjectionBothe, T. et al. | 2003
- 104
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Product Information| 2003
- 107
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Event Calendar| 2003