X-ray reflectivity, diffraction and grazing incidence small angle X-ray scattering as complementary methods in the microstructural study of sol-gel zirconia thin films (Englisch)
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In:
E-MRS Spring Meeting, 2005
;
224-231
;
2006
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ISSN:
- Aufsatz (Konferenz) / Print
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Titel:X-ray reflectivity, diffraction and grazing incidence small angle X-ray scattering as complementary methods in the microstructural study of sol-gel zirconia thin films
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Beteiligte:Lenormand, P. ( Autor:in ) / Lecomte, A. ( Autor:in ) / Babonneau, D. ( Autor:in ) / Dauger, A. ( Autor:in )
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Erschienen in:E-MRS Spring Meeting, 2005 ; 224-231Thin Solid Films ; 495, 1-2 ; 224-231
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Verlag:
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Erscheinungsdatum:2006
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Format / Umfang:8 Seiten, 31 Quellen
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ISSN:
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Coden:
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DOI:
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Medientyp:Aufsatz (Konferenz)
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Format:Print
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Sprache:Englisch
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Schlagwörter:amorpher Zustand , Kristallmikrostruktur , Kristallisation , Kornwachstum , Korngröße , nanokristalliner Werkstoff , Dünnschicht , Röntgenbeugung , Röntgenstreuung , Zirkoniumverbindung , Saphir , Glühtemperatur , Dichte (Masse) , Kristallphase , Wärmebehandlung , Substrat , Zirkoniumoxid , Aluminiumoxid , Feststoff-Feststoff-Grenzschicht
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Datenquelle: