New methodology for the assessment of the thermal resistance of laser diodes and light emitting diodes (Englisch)
- Neue Suche nach: Veyrie, David
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- Neue Suche nach: Bourcier, Frederic
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- Neue Suche nach: Bourcier, Frederic
In:
Advances in Wafer Level Packaging, ISROS, International Symposium on Reliability of Optoelectronics for Space, 1
;
456-461
;
2010
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ISSN:
- Aufsatz (Konferenz) / Print
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Titel:New methodology for the assessment of the thermal resistance of laser diodes and light emitting diodes
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Weitere Titelangaben:Neue Methodologie für die Bewertung der Wärmebeständigkeit von Laserdioden und Leuchtdioden
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Beteiligte:Veyrie, David ( Autor:in ) / Gilard, Olivier ( Autor:in ) / Sanchez, Kevin ( Autor:in ) / Lhuillier, Sebastien ( Autor:in ) / Bourcier, Frederic ( Autor:in )
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Erschienen in:Microelectronics Reliability ; 50, 4 ; 456-461
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Verlag:
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Erscheinungsdatum:2010
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Format / Umfang:6 Seiten, 8 Bilder, 2 Tabellen, 6 Quellen
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ISSN:
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Coden:
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DOI:
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Medientyp:Aufsatz (Konferenz)
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Format:Print
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Sprache:Englisch
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Schlagwörter:
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Datenquelle: