Robustheit nanoelektronischer Schaltungen und Systeme (Deutsch)
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In:
GMM/GI/ITG-Fachtagung Zuverlässigkeit und Entwurf, 4
;
9-16
;
2010
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ISBN:
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ISSN:
- Aufsatz (Konferenz) / Print
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Titel:Robustheit nanoelektronischer Schaltungen und Systeme
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Beteiligte:Radetzki, Martin ( Autor:in ) / Bringmann, Oliver ( Autor:in ) / Nebel, Wolfgang ( Autor:in ) / Olbrich, Markus ( Autor:in ) / Salfelder, Felix ( Autor:in ) / Schlichtmann, Ulf ( Autor:in )
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Erschienen in:GMM-Fachbericht ; 66 ; 9-16
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Verlag:
- Neue Suche nach: VDE-Verlag
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Erscheinungsort:Berlin, Offenbach
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Erscheinungsdatum:2010
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Format / Umfang:8 Seiten, 12 Bilder, 17 Quellen
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ISBN:
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ISSN:
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Medientyp:Aufsatz (Konferenz)
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Format:Print
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Sprache:Deutsch
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Reportnr. / Förderkennzeichen:3
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Schlagwörter:
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Datenquelle:
Inhaltsverzeichnis Konferenzband
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Eine neue Fehlertoleranzmethode zur Verringerung des Flächenaufwandes von TMR-SystemenAugustin, Michael / Gössel, Michael / Kraemer, Rolf et al. | 2010
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Robustheit nanoelektronischer Schaltungen und SystemeRadetzki, Martin / Bringmann, Oliver / Nebel, Wolfgang / Olbrich, Markus / Salfelder, Felix / Schlichtmann, Ulf et al. | 2010
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Robuster Selbsttest mit extremer KompaktierungIndlekofer, Thomas / Schnittger, Michael / Hellebrand, Sybille et al. | 2010
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Effiziente Simulation von strukturellen Fehlern für die Zuverlässigkeitsanalyse auf SystemebeneKochte, Michael A. / Zöllin, Christian G. / Baranowski, Rafal / Imhof, Michael E. / Wunderlich, Hans-Joachim / Hatami, Nadereh / Carlo, Stefano Di / Prinetto, Paolo et al. | 2010
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A new physics-based NBTI model for DC- and AC-stress enabling accurate circuit aging simulations considering recoverySchlünder, Christian / Reisinger, Hans / Gustin, Wolfgang / Grasser, Tibor et al. | 2010
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Timing-Modell für Makrozellen zur AlterungsanalyseLorenz, Dominik / Barke, Martin / Schlichtmann, Ulf et al. | 2010
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Analysis on Effectiveness of SRAM Test Algorithms and Test Statistics on Industrial DataLinder, Michael / Eder, Alfred / Oberländer, Klaus / Resch, Gerald / Huch, Martin et al. | 2010
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A Holistic Approach of an Architecture for Tests of FPGA Based Systems with Boundary ScanSachße, Jörg / Ostendorff, Steffen / Wuttke, Heinz-Dietrich / Meza Escobar, Jorge Hernan et al. | 2010
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An opamp array test structure for stress test measurementsJohn, Bibin / Hafkemeyer, Kristian M. / Krautschneider, Wolfgang H. et al. | 2010
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IR-Thermographie zur Qualitätssicherung von elektrischen Durchkontaktierungen in LeiterplattenRas, M. Abo / May, D. / Schacht, R. / Wunderle, B. / Michel, B. et al. | 2010
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Schwachstellen und Engpässe bei Verfahren der Selbstreparatur für hochintegrierte Schaltungen und SystemeKoal, Tobias / Scheit, Daniel / Vierhaus, Heinrich T. et al. | 2010
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Testmethodik zur Untersuchung von geringen LeckströmenKirsten, Dagmar / Rolapp, Alexander / Nuernbergk, Dirk M. et al. | 2010
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Kompositionelle Formale RobustheitsprüfungFrehse, Stefan / Fey, Görschwin et al. | 2010
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Orbital-X: Fehlertoleranter Rechner für RaumfahrtanwendungenOrtner, Jan / Frickel, Jürgen / Sattler, Sebastian M. / Glauert, Wolfram / Kandler, Bernd / Göbel, Richard / Hager, Philipp / Walter, Ulrich / Graf, Hans-Rainer et al. | 2010
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Auswirkung von Paramterschwankungen bei verschiedenen Fertigungsverfahren von Kupfer-LeitungsstrukturenHeinig, Andy et al. | 2010
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Parameterextraktion VRH-basierter Modelle für organische FeldeffekttransistorenSchirmer, Wolfgang / Glauert, Wolfram H. / Blache, Robert / Krumm, Jürgen / Schmidt, Klaus et al. | 2010
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Ausbeute und Fehlertoleranz bei dreifach modularer RedundanzHunger, Marc / Hellebrand, Sybille et al. | 2010
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Complete verification of weakly programmable IPs against their operational ISA modelLoitz, Sacha / Wedler, Markus / Stoffel, Dominik / Brehm, Christian / Kunz, Wolfgang / Wehn, Norbert et al. | 2010
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Online transient error detection and recovery in re-order buffers of superscalar processorsShazli, Syed / Tahoori, Mehdi et al. | 2010
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Design for reliability (DfR). A key requirement for modern product designSchlünder, Christian et al. | 2010