Scanning Probe Microscopy Imaging before and after Atomic Layer Oxide Deposition on a Compound Semiconductor Surface (Englisch)
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- Neue Suche nach: Kummel, A.C.
In:
Ultra Clean Processing of Semiconductor Surfaces X, UCPSS, International Symposium on Ultra Clean Processing of Semiconductor Surfaces, 10
;
9-10
;
2012
-
ISSN:
- Aufsatz (Konferenz) / Print
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Titel:Scanning Probe Microscopy Imaging before and after Atomic Layer Oxide Deposition on a Compound Semiconductor Surface
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Beteiligte:Melitz, W. ( Autor:in ) / Clemens, J.B. ( Autor:in ) / Shen, J. ( Autor:in ) / Chagarov, E.A. ( Autor:in ) / Lee, S. ( Autor:in ) / Lee, J.S. ( Autor:in ) / Royer, J.E. ( Autor:in ) / Holland, M. ( Autor:in ) / Bentley, S. ( Autor:in ) / McIntyre, D. ( Autor:in )
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Erschienen in:Solid State Phenomena ; 187 ; 9-10
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Verlag:
- Neue Suche nach: Trans Tech Publications
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Erscheinungsort:Zürich
-
Erscheinungsdatum:2012
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Format / Umfang:2 Seiten
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ISSN:
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DOI:
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Medientyp:Aufsatz (Konferenz)
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Format:Print
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Sprache:Englisch
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Schlagwörter:
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Datenquelle: