Comparing Spreading Resistance Profiling and C-V characterisation to identify defects in silicon sensors (Englisch)
- Neue Suche nach: Dragicevic, M.
- Neue Suche nach: Bergauer, T.
- Neue Suche nach: Hrubec, J.
- Neue Suche nach: Krammer, M.
- Neue Suche nach: Treberspurg, W.
- Neue Suche nach: Valentan, M.
- Neue Suche nach: Dragicevic, M.
- Neue Suche nach: Bergauer, T.
- Neue Suche nach: Hrubec, J.
- Neue Suche nach: Krammer, M.
- Neue Suche nach: Treberspurg, W.
- Neue Suche nach: Valentan, M.
In:
IWORID, International Workshop on Radiation Imaging Detectors, 14
;
C02018/1-C02018/5
;
2013
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ISSN:
- Aufsatz (Konferenz) / Print
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Titel:Comparing Spreading Resistance Profiling and C-V characterisation to identify defects in silicon sensors
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Beteiligte:Dragicevic, M. ( Autor:in ) / Bergauer, T. ( Autor:in ) / Hrubec, J. ( Autor:in ) / Krammer, M. ( Autor:in ) / Treberspurg, W. ( Autor:in ) / Valentan, M. ( Autor:in )
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Erschienen in:IWORID, International Workshop on Radiation Imaging Detectors, 14 ; C02018/1-C02018/5Journal of Instrumentation (Online) ; 8, 2 ; C02018/1-C02018/5
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Verlag:
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Erscheinungsdatum:2013
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Format / Umfang:5 Seiten, 5 Quellen
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ISSN:
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DOI:
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Medientyp:Aufsatz (Konferenz)
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Format:Print
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Sprache:Englisch
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Schlagwörter:
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Datenquelle: