Results of an electron beam test with prototype silicon sensors manufactured by Infineon Technologies Austria AG (Englisch)
- Neue Suche nach: Treberspurg, W.
- Neue Suche nach: Bartl, U.
- Neue Suche nach: Bergauer, T.
- Neue Suche nach: Dragicevic, M.
- Neue Suche nach: Hacker, J.
- Neue Suche nach: König, A.
- Neue Suche nach: Wübben, T.
- Neue Suche nach: Treberspurg, W.
- Neue Suche nach: Bartl, U.
- Neue Suche nach: Bergauer, T.
- Neue Suche nach: Dragicevic, M.
- Neue Suche nach: Hacker, J.
- Neue Suche nach: König, A.
- Neue Suche nach: Wübben, T.
In:
PIXEL, International Workshop on Semiconductor Pixel Detectors for Particles and Imaging, 7
;
C05007/1-C05007/8
;
2015
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ISSN:
- Aufsatz (Konferenz) / Print
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Titel:Results of an electron beam test with prototype silicon sensors manufactured by Infineon Technologies Austria AG
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Beteiligte:Treberspurg, W. ( Autor:in ) / Bartl, U. ( Autor:in ) / Bergauer, T. ( Autor:in ) / Dragicevic, M. ( Autor:in ) / Hacker, J. ( Autor:in ) / König, A. ( Autor:in ) / Wübben, T. ( Autor:in )
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Erschienen in:PIXEL, International Workshop on Semiconductor Pixel Detectors for Particles and Imaging, 7 ; C05007/1-C05007/8Journal of Instrumentation (Online) ; 10, 5 ; C05007/1-C05007/8
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Verlag:
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Erscheinungsdatum:2015
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Format / Umfang:8 Seiten, 4 Quellen
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ISSN:
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DOI:
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Medientyp:Aufsatz (Konferenz)
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Format:Print
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Sprache:Englisch
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Schlagwörter:
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Datenquelle: