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In der modernen Halbleiter-Speichertechnik sind statische RAMs von großer Bedeutung. Wichtig für ihre Anwendung ist das Vorhandensein einer ausfallsicheren Puffer-Spannungsquelle, damit bei Versagen der Hauptstromversorgung die gespeicherten Daten erhalten bleiben. Hierfür können z.B. Thyonilchlorid-Lithium-Zellen eingesetzt werden. Der Beitrag beschreibt Ausfallursachen, Qualitätsprüfverfahren, Prüfstrategien und Zuverlässigkeitsaspekte für Lithium-Batterien. Folgende Prüfverfahren sollten bei der Qualitätskontrolle eingesetzt werden: Hochtemperaturlagerung über 24 und 72 Stunden bei 72 Cel, Raumtemperaturlagerung über mindestens 336 Stunden, Vibrationsprüfung, Temperaturwechseltests, Kapazitätstests, Kurzschlußprüfung, Spannungsverzögerungsprüfung, Deformations- und Leckagetests, Burn-in-Prüfungen. (Flake)