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Eine der anspruchvollsten Aufgaben der Qualitätssicherung ist die qualitative Prüfung von technischen Oberflächen. Es ist jedoch noch ein enormer gerätetechnischer Entwicklungsbedarf vorhanden, um die Oberflächenbeschaffenheiten zuverlässig und schritthaltend zum Produktionstakt prüfen zu können und dies bei einem günstigen Preis-/Leistungsverhältnis. In der Arbeit wird zunächst eine Auswahl leistungsstarker und zuverlässiger Verfahren zur qualitativen Prüfung von Oberflächen benannt sowie deren Parametrierung. Dies sind im wesentlichen Verfahren, die auf der Auswertung pyramidaler Bilddatenstrukturen mit statistischen Merkmalen basieren. Sie haben eine sehr hohe Erkennungsrate bei der Detektierung von Oberflächenfehlern und zeigen eine große Robustheit im industriellen Einsatz. Entscheidend für eine hohe Verarbeitungsgeschwindigkeit des Prüfsystems ist eine schnelle Merkmalsberechnung. Dies wird durch die Auswahl weniger aber signifikanter Merkmale erreicht, deren Berechnungsalgorithmen effektiv in Hardware umsetzbar sind. In einem technischen Konzept werden dazu die Systemarchitekturen neuartiger Hardware-Module für die Generierung der Bildpyramiden und für die Berechnung der Merkmale unter Beachtung relevanter Standards und Normen auf dem Gebiet der Bildverarbeitung entwickelt. Mit diesen Modulen wird ein Spezialprozessor konzipiert, der die oberflächenbeschreibenden Merkmale schritthaltend zum Produktionstakt berechnen kann. Die nachfolgende Klassifikation der Beschaffenheit der Oberfläche ist infolge der großen Datenreduktion dann zum Beispiel mit Workstations durchführbar.