X-ray imaging and characterization of materials. Compton backscatter techniques (Englisch)
- Neue Suche nach: Zhu, P.
- Neue Suche nach: Babot, D.
- Neue Suche nach: Peix, G.
- Neue Suche nach: Muller, J.
- Neue Suche nach: Zhu, P.
- Neue Suche nach: Babot, D.
- Neue Suche nach: Peix, G.
- Neue Suche nach: Muller, J.
In:
International Symposium on Computerized Tomography for Industrial Applications, 1994
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338-345
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1995
- Aufsatz (Konferenz) / Print
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Titel:X-ray imaging and characterization of materials. Compton backscatter techniques
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Weitere Titelangaben:Röntgenbilddarstellung und Charakterisierung von Werkstoffen. Compton-Rückstreuverfahren
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Beteiligte:
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Erschienen in:DGZfP-Berichtsband ; 44, RN9938(44) ; 338-345
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Verlag:
- Neue Suche nach: Deutsche Gesellschaft für Zerstörungsfreie Prüfung (DGZfP)
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Erscheinungsort:Berlin
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Erscheinungsdatum:1995
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Format / Umfang:8 Seiten, 12 Bilder, 3 Quellen
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Medientyp:Aufsatz (Konferenz)
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Format:Print
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Sprache:Englisch
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Schlagwörter:zerstörungsfreie Prüfung , Röntgenstreuung , Compton-Streuung , Rückstreuung , Bildverarbeitung , dreidimensionale Darstellung , faserverstärkter Kunststoff , Kohlenstoffaser , Blech , Riss , nichtrostender Stahl , Auftragschweißen , Schichtwerkstoff , Verbundwerkstoff , Siliciumoxid , Sinterwerkstoff , Compton-Effekt
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Datenquelle: