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Modular Family of Sensors for a Nanopositioning and Nanomeasuring Machine
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Recent developments and challenges of nanopositioning and nanomeasuring technology
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Influence of the reference surface and AFM tip on the radius and roundness measurement of micro spheres
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Transiente Kalibrierung der Temperaturabhängigkeit resistiver Hochdrucksensoren in Großserie
Online Contents | 2016| -
58. Ilmenauer Wissenschaftliches Kolloquium – Nanomesstechnik und Prozessmesstechnik
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