Erscheinungsjahr
Medientyp
Fach
Format
Lizenz
Sprache
Synonyme wurden verwendet für: Rasterkraftmikroskopie
Suche ohne Synonyme: keywords:(Rasterkraftmikroskopie)
Verwendete Synonyme:
- afm
- atomic force microscopy
- atomic force microscopy study
- atomkraftmikroskopie
- kraftmikroskopie
- raster kraft mikroskopie
- rkm
- scanning force microscopy
- sfm
-
The slowing of visual processing by hypoxia
NationallizenzTaylor & Francis Verlag | 1993|Schlagwörter: Additive factors method (AFM) -
Rastermikroskopie im Nah- und Fernfeld an Strukturen im Submikrometerbereich
Tema Archiv | 1994|Schlagwörter: Rasterkraftmikroskopie -
Rasterkraftmikroskop: Rauheit messen. Neue Aspekte der Bewertung
Tema Archiv | 1995|Schlagwörter: Rasterkraftmikroskopie -
Morphological characterization of low sulphoaluminate-type (AFm) crystals, hollow tubules and hollow crystals in polymer-modiefied mortars
Tema Archiv | 1995|Schlagwörter: AFM-Kristall -
An AFM investigation of the effects of acute hypoxia on mental rotation
NationallizenzTaylor & Francis Verlag | 1996|Schlagwörter: Additive Factors Method (AFM) -
Untersuchungen zur Rückführbarkeit von Schichtdickenmessungen
Tema Archiv | 1996|Schlagwörter: Rasterkraftmikroskopie -
Locating defects on wafers for analysis by SEM/EDX, AFM, and other microanalysis techniques
Tema Archiv | 1998|Schlagwörter: Atomkraftmikroskopie -
Rapid at-wavelength inspection of EUV mask blanks by photoresist transfer
Tema Archiv | 1998|Schlagwörter: Atomkraftmikroskopie -
Failure analysis of surface-micromachined microengines
Tema Archiv | 1998|Schlagwörter: Atomkraftmikroskopie -
The effect of native oxide on thin gate oxide integrity
Tema Archiv | 1998|Schlagwörter: Atomkraftmikroskopie -
Early stages of glass fibre corrosion in alkaline solutions
Tema Archiv | 1998|Schlagwörter: Rasterkraftmikroskopie -
High quality low-dose low-energy SIMOX implanted in high current oxygen implanter
Tema Archiv | 1998|Schlagwörter: Atomkraftmikroskopie -
The effects of cyclic thermal loading on n-type 4H-SiC device components for EM-gun pulsers
Tema Archiv | 1998|Schlagwörter: Atomkraftmikroskopie -
Tip-scanning dynamic force microscope using piezoelectric cantilever for full wafer inspection
Tema Archiv | 1999|Schlagwörter: Atomkraftmikroskopie -
Precision failure analysis and QC inspection
Tema Archiv | 1999|Schlagwörter: Atomkraftmikroskopie -
High-density data storage based on the atomic force microscope
Tema Archiv | 1999|Schlagwörter: Atomkraftmikroskopie -
Identification of amorphous silicon residues in a low power CMOS technology
Tema Archiv | 1999|Schlagwörter: Atomkraftmikroskopie -
Regiospecific orientation of single-chain antibody and atomic force microscope (AFM) images
Springer Verlag | 1999|Schlagwörter: AFM -
Voltage contrast measurements on sub-micrometer structures with an electric force microscope based test system
Tema Archiv | 1999|Schlagwörter: Atomkraftmikroskopie -
Reliability considerations in scaled SONOS nonvolatile memory devices
Tema Archiv | 1999|Schlagwörter: Atomkraftmikroskopie
Meine Suche schicken an (beta)
Schicken Sie ihre Suchanfrage (Suchterm ohne Filter) an andere Datenbanken, Portale und Kataloge, um ggf. weitere interessante Treffer zu finden:
Dimensions ist eine Datenbank für Abstracts und Zitate, die Informationen zu Forschungsförderungen mit daraus resultierenden Veröffentlichungen, Studien und Patenten verknüpft.
Im TIB AV-Portal können audiovisuelle Medien aus Wissenschaft und Lehre recherchiert und eigene wissenschaftliche Videos publiziert werden.
Im FID move kann nach fachspezifischer Literatur, Forschungsdaten und weitere Informationen aus der Mobilitäts- und Verkehrsforschung gesucht werden.
Der Open Research Knowledge Graph liefert strukturiert beschriebene Forschungsinhalte und macht diese vergleichbar.
Frei zugänglicher Ausschnitt der Verbunddatenbank K10plus des GBV und des SWB mit für die Fernleihe und Direktlieferdienste relevanten Materialien.