Fast and automatic security test on cryptographic ICs against fault injection attacks based on design for security test (Englisch)
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In:
IET Information Security
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11
, 6
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312-318
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2017
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Titel:Fast and automatic security test on cryptographic ICs against fault injection attacks based on design for security test
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Beteiligte:
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Erschienen in:IET Information Security ; 11, 6 ; 312-318
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Ausgabe:6
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Erscheinungsdatum:13.06.2017
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Format / Umfang:7 pages
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ISSN:
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DOI:
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Medientyp:Aufsatz (Zeitschrift)
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Format:Elektronische Ressource
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Sprache:Englisch
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Schlagwörter:crypto modules, workload statistics, public key cryptography, design for security test method, volume production, test patterns, DFST method, RSA implementation, scan chains, integrated circuit testing, fault injection attacks, cryptographic integrated circuits, design for testability, industrial automatic test equipment
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