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Generalized ellipsometry for the characterization of anisotropic materials: influence of the sample adjustment on the extracted optical indices
British Library Conference Proceedings | 2004| -
VUV spectroscopic ellipsometry applied to the characterization of high-k dielectrics
Tema Archiv | 2004| -
Cleaning and nitridation of GaAs surfaces in multipolar plasmas investigated by in situ photoemission and spectroscopic ellipsometry
American Institute of Physics | 1987| -
A New Versatile Instrument for Characterization of Thin Films and Multilayers Using Spectroscopic Ellipsometry and Grazing X-Ray Reflectance
British Library Online Contents | 1998| -
Atomic scale characterization of semiconductors by in-situ real time spectroscopic ellipsometry
British Library Online Contents | 1998| -
A phenomenological model of the third body particles circulation in a high temperature contact
British Library Online Contents | 2013|
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