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APPARATUS FOR DETECTING BUGS IN LOGIC-BASED PROCESSING DEVICES
Freier ZugriffEuropäisches Patentamt | 2016| -
SYSTEM AND METHOD FOR TESTING A LOGIC-BASED PROCESSING DEVICE
Freier ZugriffEuropäisches Patentamt | 2015| -
Robust System Design with Built-In Soft-Error Resilience - A system's susceptibility to transient errors increases in advanced technologies, making the incorporation of effective protection mechanisms into chip designs essential. A new design paradigm reuses design-for-testability and debug resources to eliminate such errors.
Online Contents | 2005| -
E-QED: Electrical Bug Localization During Post-silicon Validation Enabled by Quick Error Detection and Formal Methods
British Library Conference Proceedings | 2017|
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