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Emission characteristics of a charged‐droplet beam source using vacuum electrospray of an ionic liquid
Online Contents | 2013|Beteiligte: Ichimura, Shingo -
Component analysis of a mixed beam generated by vacuum electrospray of an ionic liquid
Online Contents | 2012|Beteiligte: Ichimura, Shingo -
Characteristics of a charged-droplet beam generated by vacuum electrospray of an ionic liquid
Online Contents | 2011|Beteiligte: Ichimura, Shingo -
A new cluster-ion-beam source for secondary ion mass spectrometry (SIMS) using the electrospray of a pure ionic liquid under high vacuum
Online Contents | 2010|Beteiligte: Ichimura, Shingo -
Characterizing Atomic Force Microscopy Tip Shape in Use
Online Contents | 2009|Beteiligte: Ichimura, Shingo -
Effect of processing conditions on microstructure and electrical characteristics of Ni thin films
Online Contents | 2009|Beteiligte: Ichimura, Shingo -
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Online Contents | 2009|Beteiligte: Ichimura, Shingo
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