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Technique to automatically measure electron-beam diameter and astigmatism: BEAMETR
American Institute of Physics | 2006| -
Room-Temperature Stimulated Emission from AlN at 214 nm [published December 8, 2006]
British Library Online Contents | 2006| -
Measurement and simulation of temperature dynamics under electron beam
American Institute of Physics | 2001| -
Optical power degradation mechanisms in AlGaN-based 280 nm deep ultraviolet light-emitting diodes on sapphire
NationallizenzAmerican Institute of Physics | 2006| -
Three-dimensional investigations of electrical barriers using electron beam induced current measurements
British Library Online Contents | 2002| -
Static and transient characteristics of GaN power HFETs with low-conducting coating
British Library Online Contents | 2014| -
Static and transient characteristics of GaN power HFETs with low-conducting coating
British Library Conference Proceedings | 2014| -
RF power limiter using capacitively-coupled contacts III-nitride varactor
British Library Online Contents | 2012| -
Automatic measurement of electron-beam diameter and astigmatism: BEAMETR
British Library Online Contents | 2008| -
Measurement and simulation of temperature dynamics under electron beam
British Library Online Contents | 2001| -
Technique to automatically measure electron-beam diameter and astigmatism: BEAMETR
British Library Online Contents | 2006| -
Voltage-Gated Ion Transport through Semiconducting Conical Nanopores Formed by Metal Nanoparticle-Assisted Plasma Etching
British Library Online Contents | 2012|
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