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Simulation of the Effect of Lattice Defects on the Work of Joined Materials Separation
Springer Verlag | 2023| -
Interface Instability of Integrated Circuit Layers under Electric Current and Mechanical Stress
Springer Verlag | 2022| -
Influence of Point Defects on the Initiation of Electromigration in an Impurity Conductor
Springer Verlag | 2021| -
Effect of Point Defects on the Electromigration Rate at the Interface of Joined Materials
Springer Verlag | 2020| -
Characteristics of the kinetics of periodic structures CMP for a nonlinear pressure dependence of the polishing rate
British Library Online Contents | 2016| -
Electromigration-Induced Instability of the Interface between Solid Conductors
Springer Verlag | 2018| -
Influence of electrical current on the stability of a conducting film surface
Springer Verlag | 2015|
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