Erscheinungsjahr
Format
Lizenz
Sprache
-
Radiation-Induced Charge Trapping in Shallow Trench Isolations of FinFETs
Freier ZugriffIEEE | 2024| -
Radiation tolerance study of a commercial 65nm CMOS technology for high energy physics applications
Online Contents | 2016|Beteiligte: Mattiazzo, Serena -
Investigation of total ionizing dose effect and displacement damage in 65nm CMOS transistors exposed to 3MeV protons
Online Contents | 2015|Beteiligte: Mattiazzo, Serena -
Novel Imaging Sensor for High Rate and High Resolution Applications
Freier ZugriffBASE | 2006|Beteiligte: Mattiazzo, Serena -
Characterization of the radiation tolerant ToASt ASIC for the readout of the PANDA MVD strip detector
Freier ZugriffIOP Institute of Physics | 2024| -
Drain Current Collapse in 65 nm pMOS Transistors After Exposure to Grad Dose
Online Contents | 2015|Beteiligte: Mattiazzo, Serena -
Studies of vertex tracking with SOI pixel sensors for future lepton colliders
Online Contents | 2012|Beteiligte: Mattiazzo, Serena
Meine Suche schicken an (beta)
Schicken Sie ihre Suchanfrage (Suchterm ohne Filter) an andere Datenbanken, Portale und Kataloge, um ggf. weitere interessante Treffer zu finden:
Dimensions ist eine Datenbank für Abstracts und Zitate, die Informationen zu Forschungsförderungen mit daraus resultierenden Veröffentlichungen, Studien und Patenten verknüpft.
Im TIB AV-Portal können audiovisuelle Medien aus Wissenschaft und Lehre recherchiert und eigene wissenschaftliche Videos publiziert werden.
Im FID move kann nach fachspezifischer Literatur, Forschungsdaten und weitere Informationen aus der Mobilitäts- und Verkehrsforschung gesucht werden.
Der Open Research Knowledge Graph liefert strukturiert beschriebene Forschungsinhalte und macht diese vergleichbar.
Frei zugänglicher Ausschnitt der Verbunddatenbank K10plus des GBV und des SWB mit für die Fernleihe und Direktlieferdienste relevanten Materialien.