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Imaging of Order Parameter Induced π Phase Shifts in Cuprate Superconductors by Low-Temperature Scanning Electron Microscopy
British Library Online Contents | 2009| -
Sub-nanometer in-die overlay metrology: measurement and simulation at the edge of finiteness [8788-58]
British Library Conference Proceedings | 2013| -
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British Library Conference Proceedings | 2012| -
On-product overlay enhancement using advanced litho-cluster control based on integrated metrology, ultra-small DBO targets and novel corrections [8681-3]
British Library Conference Proceedings | 2013| -
Errata - Publisher's Note: Phase-Sensitive Order Parameter Symmetry Test Experiments Utilizing Nd2-xCexCuO4-y-Nb Zigzag Junctions (Phys. Rev. Lett. 94, 167001 (2005))
Online Contents | 2005|Beteiligte: Smilde, H.-J.H.
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