Erscheinungsjahr
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AC41 Abschlußbericht : Teil II: Kompaktsimulation ; Juli bis Dezember 1996
TIBKAT | 1996|Verlag: Siemens AG, Semiconductor Group, Munich -
AC41 Abschlußbericht : Teil I: TLP-Messung auf Waferebene : Untersuchung der Korrelation HBM-TLP ; Juli bis Dezember 1996
TIBKAT | 1996|Verlag: Siemens AG, Semiconductor Group, Munich -
AC41 Zwischenbericht : Teil 1b: CDM Monitor-Schaltkreis ; Juli bis Dezember 1995
TIBKAT | 1995|Verlag: Siemens AG, Semiconductor Group, Munich -
AC41 Zwischenbericht : Teil III: Kompaktsimulation des Referenz-Schutztransistors ; Januar bis Juni 1996
TIBKAT | 1996|Verlag: Siemens AG, Semiconductor Group, Munich -
Methoden der Defekterkennung für die 193nm- und die EUV-Technologie, Demonstrator-Entwicklung : Abschlussbericht ; Verbundprojekt: Abbildungsmethodiken für nanoelektronische Bauelemente (ABBILD), Teilvorhaben: 4, Arbeitspaket: 4300 ; Laufzeit: 01.10.2003 - 30.09.2007
Freier ZugriffTIBKAT | 2008|Verlag: SIEMENS AG, Corporate Technology, CT PS 9, München -
Numerische Device-Simulation von MOSFETs bei ESD-Belastung : Dokumentation zum Forschungsprojekt ; Laufzeit: 1.1.1995 bis 31.12.1996 ; Abschluß-bericht
TIBKAT | 1997|Verlag: Siemens AG, Semiconductor Group, Munich
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