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SILICON MICROCRYSTAL COMPOSITE FILM, THERMOELECTRIC MATERIAL AND MANUFACTURING METHOD THEREOF
Freier ZugriffEuropäisches Patentamt | 2017| -
Study of stress distribution in a cleaved Si shallow trench isolation structure using confocal micro-Raman system
NationallizenzAmerican Institute of Physics | 2010| -
Properties of three-dimensional structures prepared by Ge dewetting from Si(111) at high temperatures
American Institute of Physics | 2015| -
Edge-enhanced Raman scattering in Si nanostripes
NationallizenzAmerican Institute of Physics | 2009| -
Study of stress in a shallow-trench-isolated Si structure using polarized confocal near-UV Raman microscopy of its cross section
NationallizenzAmerican Institute of Physics | 2007| -
Analysis of micro-Raman spectra combined with electromagnetic simulation and stress simulation for local stress distribution in Si devices
NationallizenzAmerican Institute of Physics | 2012| -
Axial strain effects on ballistic phonon thermal transport in silicon nanowires
British Library Online Contents | 2016| -
High-spatial-resolution Raman microscopy of stress in shallow-trench-isolated Si structures
NationallizenzAmerican Institute of Physics | 2006| -
Nanotechnology: Fabrication - Regular array of Si nanopillars fabricated using metal clusters
Online Contents | 1998| -
Ultraviolet Raman spectra of few nanometer thick silicon-on-insulator nanofilms: Lifetime reduction of confined phonons
American Institute of Physics | 2014| -
Ultraviolet Raman spectra of single uncoated and SiO2-coated silicon-on-insulator nanowires: Phonon boundary scattering, wave-vector relaxation and stress
American Institute of Physics | 2013|
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